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行業動態 行業動態

行業動態

用心打造于半導體器件電性能方面測驗

國產數字源表(SMU)和探針臺測試應用案例

收入:admin 時間:2024-03-06 13:16 訪問量:3184

1、MPD晶圓測試

測試設備:單(dan)脈沖源表P300+檢測器(qi)臺

異常現象:測(ce)試中存在一個3nA左(zuo)右的漏電流(liu)

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圖:十分測量擬合數據圖

異常原因:測(ce)試現場的連接(jie)線(xian)屏蔽(bi)層接(jie)地不達標,外界電磁環境的作用下使設備對大地的電位發生變(bian)化,造成設備工作不穩定

優化措施:將屏蔽層接地

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圖:簡化后測試線條圖


2、三極管測試

測試設備:2臺(tai)(tai)直流電壓源表(biao)S300+探頭臺(tai)(tai)

異常現象:源表輸出0-3V的(de)電壓掃描,當輸出的(de)電壓小于0.5V時,源表回讀的(de)電壓值為-0.5V

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圖:超時測試儀效果

不正確誘因:各(ge)種(zhong)測(ce)試(shi)檢測(ce)器臺沒能接地系統(tong),各(ge)種(zhong)測(ce)試(shi)檢測(ce)器臺組(zu)成部分上發生的塑料,在(zai)導電(dian)連接的區域(yu)環境中會發生的電(dian)磁(ci)干擾,然而對各(ge)種(zhong)測(ce)試(shi)效(xiao)果(guo)帶動影晌

提高政策:將檢測器(qi)臺順利(li)通過(guo)電線應用土地

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圖:提升后考試后果

3、芯片測試

測試設備:直流電(dian)源表S300+電(dian)極臺(tai)

異常現象:源表未模擬輸出,測試(shi)探(tan)針冒火星(xing)子(zi)

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圖:不正常測評(ping)-探頭(tou)冒火苗(miao)

異常原因三同定位軸線纜GUARD4g表現傾斜。GUARD4g表現如相連接正確,其電勢與4g表現層通常一樣,因此漏電非常小,故而對4g表現更好地發揮沒事定的愛護幫助;但GUARD4g表現傾斜,其與4g表現層的電勢差更大,這樣的話漏電更大,對4g表現的影響力相當大

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優化措施:將(jiang)GUARD手機訊號接(jie)通源(yuan)表(biao),使GUARD手機訊號更好地發揮保(bao)護好能力

4、PD測試

測試設備:直流源(yuan)表(biao)S300+探針臺

異常現象:源表(biao)在(zai)100nA的(de)量程下(xia),輸出-2V電壓(ya),實(shi)際顯示-2.69V

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圖:異常情況測驗(yan)畢竟(jing)

異常原因:客戶使(shi)用的同(tong)軸線接觸(chu)不良,探針臺(tai)沒有接地

優化措施:更換(huan)新的(de)同軸線(xian),將探針臺通過導線(xian)接入大地


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圖:優化方案后測試(shi)測試(shi)結局(ju)

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